El proceso de recoleccíón de la muestra traída por la misión OSIRIS-REx de la NASA del asteroide Bennu avanza más lento de lo previsto porque hay más material del previsto.

La abundancia de material encontrado cuando se retiró la tapa del recipiente científico de la cápsula llegada a la Tierra el 24 de septiembre ha significado que el proceso de desmontaje de la cabeza TAGSAM (Mecanismo de Adquisición de Muestras Touch-and-Go), que contiene la mayor parte del material del asteroide, ha tenido un «comienzo metódico», según la NASA.

Después del evento de recolección en Bennu hace tres años, los científicos esperaban poder encontrar algo de material de asteroide en el recipiente fuera de la cabeza de TAGSAM cuando vieron partículas que escapaban lentamente de la cabeza antes de que fuera almacenada. Sin embargo, la cantidad real de partículas oscuras que recubren el interior de la tapa del recipiente y la base que rodea el TAGSAM «es incluso mayor de lo que habían previsto».

«El mayor ‘problema’ que podemos tener es que hay tanto material que se está tardando más de lo que esperábamos en recolectarlo», dijo en un comunicado Christopher Snead, jefe adjunto de curación de OSIRIS-REx, del Centro Espacial Johnson de la NASA. «Hay mucho material abundante fuera del cabezal TAGSAM que es interesante en sí mismo. Es realmente espectacular tener todo ese material ahí».

La primera muestra recolectada fuera de la cabeza TAGSAM, en la cubierta de aviónica, está ahora en manos de científicos que están realizando un análisis rápido, que proporcionará una comprensión inicial del material de Bennu y lo que podemos esperar encontrar cuando el Se revela la muestra a granel.

«Tenemos todas las técnicas microanalíticas que podemos aplicar a esto para realmente secuenciarlo, casi hasta la escala atómica», dijo Lindsay Keller, miembro del equipo de análisis de muestras OSIRIS-REx del Centro Johnson.

La investigación rápida utilizará varios instrumentos, incluido un microscopio electrónico de barrido (SEM), mediciones infrarrojas y difracción de rayos X (XRD), para obtener una mejor comprensión de la muestra.

El SEM ofrecerá un análisis químico y morfológico, mientras que las mediciones infrarrojas deberían proporcionar información sobre si la muestra contiene minerales hidratados y partículas ricas en materia orgánica. La difracción de rayos X es sensible a los diferentes minerales de una muestra y proporcionará un inventario de los minerales y quizás una indicación de sus proporciones.

Durante las próximas semanas, el equipo de curación trasladará la cabeza TAGSAM a una cámara de manipulación especializada diferente donde llevarán a cabo el complejo proceso de desmontaje para finalmente revelar la muestra a granel que contiene.

Fuente: europapress.es